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半導體分立器件測試儀系統
半導體分立器件測試儀系統單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
型號:
所在地:武漢市
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面議更新時間:2024/10/10 18:36:45
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IGBT靜態參數測試系統
IGBT靜態參數測試系統單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
型號:
所在地:武漢市
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面議更新時間:2024/10/10 18:24:08
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多功能分立器件測試系統
多功能分立器件測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/8 15:53:09
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功率器件流水線全靜態參數自動測試儀
功率器件流水線全靜態參數自動測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/8 15:51:39
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分立器件測試儀系統
分立器件測試儀系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/8 15:50:30
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IGBT靜態參數測試儀設備
IGBT靜態參數測試儀設備 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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面議更新時間:2021/9/8 15:49:44
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半導體分立器件光耦適配器測試儀
半導體分立器件光耦適配器測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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面議更新時間:2021/9/8 15:48:23
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晶體管直流參數測試儀設備
晶體管直流參數測試儀設備 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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功率電子器件正向壽命試驗系統
功率電子器件正向壽命試驗系統 測試一個器件周期為80ms,依次測試完成22個器件后結束測試,之后自動切換到下一個設定電流下測試,直到測試完成。
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面議更新時間:2021/9/8 15:46:54
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碳化硅器件浪涌電流測試設備
碳化硅器件浪涌電流測試設備 主要是實現測試碳化硅器件在開通瞬間產生最大承受電流Ipp及在關斷瞬間產生最大沖擊電流IC的實驗。
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面議更新時間:2021/9/8 15:45:29
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高壓反偏設備
高壓反偏設備 在設定電壓(反偏電壓一直加)下對22個器件的漏電流依次進行測試 在設定電壓(反偏電壓一直加)下對22個器件的漏電流依次進行測試
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面議更新時間:2021/9/8 15:43:45
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雪崩測試儀(電壓耐量測試設備)
雪崩測試儀(電壓耐量測試設備) 設備滿足電壓在5000V及以下范圍內二極管、三極管、MOS管及IGBT等器件的測試需求。計算機系統控制,具有波形顯示功能。
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面議更新時間:2021/9/8 15:42:03
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晶體管直流參數測試儀靜態參數測試儀參數測試儀
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特大功率碳化硅器件測試儀系統
特大功率碳化硅器件測試儀系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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面議更新時間:2021/9/7 15:41:52
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分立器件測試系統
分立器件測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
型號:
所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:37:13
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功率器件流水線全靜態參數測試系統
功率器件流水線全靜態參數測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
型號:
所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:36:22
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SiC雪崩能力測試儀
SiC雪崩能力測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:33:30
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功率器件流水線自動動化測試系統
功率器件流水線自動動化測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
型號:
所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:32:09
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晶體管直流參數測試儀靜態參數測試儀參數測試儀
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電流耐量測試設備
電流耐量測試設備 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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面議更新時間:2021/9/7 15:29:55
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SiC 功率器件動態參數測試系統
SiC 功率器件動態參數測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:28:23
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半導體分立器件測試系統
半導體分立器件測試系統 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態參數測試。
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所在地:武漢市
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面議更新時間:2021/9/7 15:26:43
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